材料表征方法
1. 形貌分析
扫描电子显微镜 （SEM） ：提供材料表面的高分辨率图像。
透射电子显微镜 （TEM） ：观察材料内部结构，如晶格和位错。
原子力显微镜 （AFM） ：非破坏性地测量表面形貌和物理化学性质。
2. 物相分析
X射线衍射 （XRD） ：确定晶体结构、相组成和晶胞参数。
激光拉曼分析 （Raman） ：通过分子振动或转动能级相互作用产生特征光谱。
傅里叶红外分析 （FTIR） ：分析材料的红外吸收光谱。
3. 表面分析
X射线光电子能谱 （XPS） ：提供材料表面的化学状态和定量信息。
拉曼光谱 （Raman） ：研究分子振动和旋转信息，揭示材料结构特性。
电子顺磁共振 （EPR） ：研究电子自旋状态和相互作用。
4. 原位表征技术
原位X射线衍射 （in situ XRD） ：在特定反应流程中进行“在线”分析。
原位红外 （in situ IR） 、 原位拉曼 （in situ Raman） 、 原位透射 （in situ transmission） ：对材料在反应过程中的状态进行实时监测。
这些方法各有优缺点，通常需要根据具体的研究需求和材料的特性选择合适的表征手段。
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